不同壓力下的露點(diǎn)可以隨時被測量，DP350壓力露點(diǎn)儀市場上少有的露點(diǎn)儀
在工業(yè)領(lǐng)域中，很多場合需要測量不同壓力下的露點(diǎn)值，而市場上的露點(diǎn)儀95%都是常壓露點(diǎn)儀，不能反映出壓力變化下對露點(diǎn)的影響，意大利ADEV公司推出的新款壓力露點(diǎn)儀DP350露點(diǎn)儀具備Mems壓力傳感器，可以給予露點(diǎn)儀傳感器提供壓力的實(shí)時數(shù)值，真正的一款壓力露點(diǎn)儀。
DP350 露點(diǎn)及壓力多參數(shù)變送器(-80…20 oCtd)
1. 性能/優(yōu)勢
- ADEV全新的高分子薄膜傳感器技術(shù)及基于MEMS的壓力傳感器
- 可同時監(jiān)測露點(diǎn)及在線壓力(**壓力1 … 17 bar)
- 高達(dá)+/-2Ctd的精度測量（見下圖）可移動式露點(diǎn)儀
- 自動加熱校準(zhǔn)功能
- 超快的響應(yīng)速度及出色的長期穩(wěn)定性
- 防冷凝結(jié)露，抗微粒污染、油蒸汽及多數(shù)化學(xué)品
- 出廠前的多點(diǎn)溫度補(bǔ)償校驗(yàn)
- 出色的抗干擾能力
- IP65防護(hù)等，即使惡劣的環(huán)境下也能提供良好的保護(hù)
- 通過標(biāo)配的RS485接口及功能強(qiáng)大的服務(wù)軟件，提供**的傳感器設(shè)置，數(shù)據(jù)傳輸，軟件升及維護(hù)功能
不同壓力下的露點(diǎn)可以隨時被測量，DP350壓力露點(diǎn)儀市場上少有的露點(diǎn)儀
2. 介紹
- ADEV全新材料的高分子薄膜傳感器技術(shù)，使其具備了一般高分子薄膜傳感器的高濕響應(yīng)優(yōu)點(diǎn)，同時具備了****的低濕響應(yīng)水平
- 自動加熱功能大大加快了傳感器從高濕到低濕的響應(yīng)速度，利用獨(dú)特的加熱算法，提供了業(yè)界的響應(yīng)速度。同時加熱功能大大提升了此傳感器的抗冷凝、抗污染能力可移動式露點(diǎn)儀
- 出色的傳感器電路設(shè)計能自動補(bǔ)償由溫度、污染、老化引起的電路漂移，提供長期可靠的高精度測量。結(jié)合自動加熱功能及此全新材料的高分子薄膜傳感器技術(shù)的超高穩(wěn)定性，重新校準(zhǔn)的周期得以延長至兩年以上
- **的溫度補(bǔ)償算法及出廠前多點(diǎn)溫度的補(bǔ)償校驗(yàn)，大大改善了傳感器的溫度漂移，保證了寬溫度范圍內(nèi)的高精度測量
不同壓力下的露點(diǎn)可以隨時被測量，DP350壓力露點(diǎn)儀市場上少有的露點(diǎn)儀
3. 技術(shù)參數(shù)
測量參數(shù)
露點(diǎn)測量范圍 -80 … +20 Ctd（標(biāo)準(zhǔn)）
-60 … +20 Ctd（標(biāo)準(zhǔn)）
量程可訂制
壓力測量范圍，**壓力 1 … 17 bar
溫度測量范圍 -40 … +100 C
測量精度
露點(diǎn)精度(空氣或氮?dú)?span>) +/- 2 Ctd（見下圖）
溫度精度
0 … +50 C +/-0.3 C（標(biāo)準(zhǔn)）
-40…0 C及+50…+100 C +/-0.5 C（標(biāo)準(zhǔn)）
溫度精度要求可訂制
壓力精度@23C +/-0.3 %FS
壓力隨溫度漂移 +/-0.01 bar/10C
響應(yīng)時間63% [90%]，20C，1bar(gauge)，4L/min
露點(diǎn)傳感器
-80 -> -30 Ctd 20秒[40秒]
-30 -> -70 Ctd 5分鐘[20分鐘]
壓力響應(yīng)時間 < 1 s
不同壓力下的露點(diǎn)可以隨時被測量，DP350壓力露點(diǎn)儀市場上少有的露點(diǎn)儀
輸出
電流輸出（量程可改） 4…20 mA（3線）
電流輸出分辨率 0.002 mA
電流輸出溫度漂移 0.01% of span / C
電流輸出負(fù)載 大500 ohm
數(shù)字輸出 RS485
連接器 5-pin M12可移動式露點(diǎn)儀
電源
自動加熱 16…30 V / 250 mA
正常測量 16…30V / 30 mA + 4-20mA電流輸出
工作環(huán)境
工作溫度 -20…+70 C
存儲溫度 -30…+80 C
相對濕度 0…95 %RH
樣氣流速 >1 L/min
壓力 0…50 bar
其他
外殼 不銹鋼
保護(hù)等 IP65
機(jī)械部件連接 ISO G 1/2”
不銹鋼網(wǎng)過濾器 過濾等< 30um
電磁兼容 符合IEC 61326-1
更多不同壓力下的露點(diǎn)可以隨時被測量，DP350壓力露點(diǎn)儀市場上少有的露點(diǎn)儀信息請直接致電埃登威021-55581219可移動式露點(diǎn)儀
