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露點儀原理深度解析及GE HygroPro II水分儀介紹|埃登威自動化系統(tǒng)設備（上海）有限公司

露點儀原理深度解析及GE HygroPro II水分儀介紹

露點儀原理概述

露點儀，作為測量氣體中微量水分含量的精密儀器，其核心原理基于水分子在不同條件下的物理特性。簡而言之，露點儀通過檢測氣體中水分子達到飽和狀態(tài)時的溫度——即露點溫度，來間接反映氣體的**濕度。這一過程涉及多個技術路徑，每種方法都有其獨特的優(yōu)勢和應用場景。

  1. 鏡面式露點儀：利用光電檢測技術，通過制冷鏡面使氣體中的水蒸氣凝結，并測量凝結時的溫度，即露點溫度。鏡面制冷方式多樣，包括半導體制冷、液氮制冷和高壓空氣制冷。該方法直接且準確，常被用作標準露點儀。

  2. 電傳感器式露點儀：采用親水性或憎水性材料作為介質(zhì)，構成電容或電阻。當含水分的氣體流經(jīng)時，材料的介電常數(shù)或電導率發(fā)生變化，通過測量電容值或電阻值來推算氣體中的水分含量。這種方法響應迅速，適用于多種工業(yè)環(huán)境。露點儀原理深度解析及GE HygroPro II水分儀介紹

  3. 電介法露點儀：利用五氧化二磷等材料吸濕后分解產(chǎn)生極性分子，在電極上積累電荷的特性，通過測量電荷量來反映水分含量。該方法具有較高的精度和靈敏度。

  4. 晶體振蕩式露點儀：基于晶體沾濕后振蕩頻率改變的原理設計，雖然技術新穎但尚不成熟，精度和成本仍需優(yōu)化。

  5. 紅外露點儀：利用氣體中水分對紅外光譜的吸收特性進行測量，適用于非接觸式在線監(jiān)測，但在低露點測量和抗干擾方面存在挑戰(zhàn)。

  6. 半導體傳感器露點儀：利用水分子在半導體晶格中的共振效應，通過測量導電率變化來檢測水分含量。該方法能夠測量極低露點，具有廣泛的應用前景。

GE HygroPro II水分儀詳細介紹露點儀原理深度解析及GE HygroPro II水分儀介紹

GE HygroPro II是一款高性能的回路供電本安型水分變送器，專為測量管道、石油化工、發(fā)電、藥業(yè)、加工及工業(yè)應用中氣體和非水溶性液體中的含濕量而設計。其**的性能和廣泛的應用范圍使其成為市場上的佼佼者。

核心特點與優(yōu)勢：

  • 高精度測量：采用氧化鋁水分傳感器、溫度熱敏電阻器和壓力感測器，提供包括露點溫度、氣體ppmv、天然氣濕度、液體ppmw及相對濕度在內(nèi)的實時測量數(shù)據(jù)。
  • 靈活輸出：支持模擬(4-20mA)和數(shù)字(RS485)輸出，便于與各種控制系統(tǒng)集成。
  • 本質(zhì)**設計：Type 4X/IP67外殼確保儀器在惡劣環(huán)境下的穩(wěn)定運行，并允許直接安裝在危險區(qū)域。
  • 便捷維護：所有校準數(shù)據(jù)存儲在可更換的傳感器元件上，更換時無需手動輸入數(shù)據(jù)，提高了維護效率。

技術參數(shù)概覽：

  • 校準范圍：露點/霜點校準范圍從20℃至-80℃，滿足多種工業(yè)需求。
  • 工作溫度：-20℃至60℃，適應廣泛的環(huán)境條件。
  • 高精度校準：在77°F(25℃)下，校準精度可達±2℃（露點/霜點–65℃ 10℃）和±3℃（露點/霜點–80℃ –66℃）。
  • 快速響應：加濕或烘干周期內(nèi)的含濕量在63%階躍變化時，響應時間不到五秒。
  • 電氣與機械特性：包括電源要求、顯示屏規(guī)格、采樣接口、工作壓力及外殼防護等級等，均體現(xiàn)了GE HygroPro II的堅固耐用和易于安裝的特點。

應用領域：露點儀原理深度解析及GE HygroPro II水分儀介紹

GE HygroPro II廣泛應用于石油、化工、干燥劑制造、電力系統(tǒng)SF6露點檢測、半導體制造、食品工業(yè)、塑料基片干燥、機械制造及空分等多個行業(yè)，特別是在需要防爆和**測量微量水分的場合中表現(xiàn)出色。

綜上所述，GE HygroPro II水分儀以其**的性能、廣泛的應用范圍和便捷的維護特性，成為了工業(yè)領域中不可或缺的水分測量工具。

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