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產(chǎn)品資料

L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀

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產(chǎn)品名稱: L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀
產(chǎn)品型號: 269
產(chǎn)品展商: L&W
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔

簡單介紹

L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀型號269 L&W光學(xué)粗糙度儀用于測量紙張表面粗糙度并評估印刷適應(yīng)性的儀器。 相較于傳統(tǒng)的光學(xué)法測定紙張表 面粗糙度的儀器，L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀具有更快的速度，更好的測試方法及更高的性價比。 這一測試方法由瑞典的Innventia(原STFI)開發(fā)，在過去20年間已經(jīng)被證明是一種杰出的方法，用于評估紙張表面粗糙度和印刷缺陷之間的關(guān)系。


L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀  的詳細(xì)介紹
L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀型號269
L&W OptiTopo用于測量紙張表面粗糙度并評估印刷適應(yīng)性的儀器。 相較于傳統(tǒng)的光學(xué)法測定紙張表 面粗糙度的儀器，它具有更快的速度，更好的測試方法及更高的性價比。 這一測試方法由瑞典的Innventia(原STFI)開發(fā)，在過去20年間已經(jīng)被證明是一種杰出的方法，用于評估紙張表面粗糙度和印刷缺陷之間的關(guān)系。|總代理|代表處|授權(quán)代理商|辦事處|分公司|全資子公司|價格|品牌|批發(fā)|選型|維修|校準(zhǔn)
相較于傳統(tǒng)的光學(xué)測量方法（如激光法、同焦法和色差法），L&W OptiTopo具有約20倍大的測量面積，因此可以得到更準(zhǔn)確、更具代表性的測試結(jié) 果。L&W OptiTopo 在約10秒內(nèi)檢測分析1000 mm2測試區(qū)域，測試結(jié)果將快速的顯示在觸摸屏上。其他產(chǎn)品：微量氧分析儀,藥品殘氧儀,露點儀,熱導(dǎo)氣體分析儀,GE流量計,OX-1氧傳感器,頂空分析儀,紅外氣體分析儀,高溫濕度儀,西門子U23分析儀,PPB微量水分析儀,OXY.IQ氧分析儀,煙氣濕度儀,燃?xì)鉄嶂祪x,KAYE溫度驗證儀,L&W白度,儀激光氧分析儀,壓縮空氣露點儀,干燥機(jī)露點儀,激光氣體分析儀,便攜式露點儀,便攜式微量氧分析儀西門子氧電池\OXY-12\ULTRAMAT-23代表U23氧模塊價格|PID傳感器 |總代理|代表處|授權(quán)代理商|辦事處|分公司|全資子公司|價格|品牌|批發(fā)|選型|維修|校準(zhǔn)


L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀測量技術(shù)
L&W OptiTopo 采用高分辨率CMOS成像系統(tǒng)在兩種不同的光照條件下對紙張表面同一區(qū)域拍攝兩張照片，借助分析紙張表面的因粗糙不平形成的地形圖。紙張樣品先由地位一側(cè)的光照系統(tǒng)照亮并成像，隨后在另一側(cè)燈光照射下成像，以漸變映向的形式展現(xiàn)并解析為高度圖進(jìn)行下一步分析。

L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀測量結(jié)果
L&W OptiTopo引入兩種新的測量結(jié)果：Crater 值和 OSD值。這兩種測試結(jié)果更能代表印刷適應(yīng) 


性，同時提供更多與表面地形相關(guān)的信。Crater值評估漏 印的風(fēng)險。 OSD值是在相對于傳統(tǒng)的空氣泄露法 更精細(xì)的層面上反應(yīng)紙張表面粗糙度，從而評估 印刷適應(yīng)性。L&W OptiTopo在不同波段計算表面地形，波動范圍從小到大。傳統(tǒng)的表面粗糙度如： PPS，本特森、針式粗糙度和謝菲爾德粗糙度都可 以通過L&W OptiTopo得到估算（需要針對不同紙 種進(jìn)行校準(zhǔn)）。紙張表面同一區(qū)域在不同光照條件下進(jìn)行兩次 成 像，不同方向的光源照射產(chǎn)生陰影和波紋。采 用光度立體技術(shù)計算高度圖從而形成紙張表面的地形圖。
便于操作 
便于使用的觸摸屏配置有直觀的菜單和人機(jī)有好 的操作界面。觸摸屏分辨率高，響應(yīng)快速，同時 表面具有保護(hù)層易于清潔且堅固耐用。耐用且持久穩(wěn)定的LED光源確保儀器需要較小的維護(hù)，且操作員自己完成簡單的維護(hù)工作。另外，實時顯示功 能 可以是調(diào)節(jié)樣品位置更加簡便，便于分析更具 代 表性的紙張表面區(qū)域。（避開那些可能導(dǎo)致結(jié)果失準(zhǔn)的有缺陷的區(qū)域）。
OSD值
L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀在不同波段測量 表面的地形 圖，波動范圍從大 到小。OSD值是根據(jù)小尺度表面 變化計算得來，是評估印刷適應(yīng)性 的重要信息。
CRATER值 
Crater值是紙張表面存在的一定深度的凹坑的數(shù)量。得知紙張表面的凹坑的百分 比可以幫助預(yù)測柔印和凹印的印刷質(zhì) 量，顯示未覆蓋區(qū)域（UCA)和漏印 點，因為紙張表面較深的凹坑將在印刷 過程中無法被油墨覆蓋。

L&W OptiTopo報告三種不同的Carter值，覆蓋市場上大多數(shù)印刷等級，Carter值的區(qū)間也可以有操作者自定義。


規(guī)格參數(shù)—L&W OptiTopo 型號269

測量

 范圍

OSD 值0.2 – 6 μm

Crater (精細(xì), 中等, 粗糙) 0.2 – 10 %.

計算評估值：PPS, 本特森, 謝菲爾德 和Emveco針式粗 糙度（需要根據(jù)不同紙種進(jìn)行校準(zhǔn)）

儀器

顯示器

8.4英寸彩色觸摸屏

*大喉深

112mm（4.1in.）

測量時間

32*32mm測試面積約10秒

16*16mm測試面積約6秒

測量面積

32*32mm和16*16mm

夾持壓力

28N

測試結(jié)果

測量結(jié)果

-OSD值，Crater精細(xì)，Crater中等，Crater粗糙

統(tǒng)計結(jié)果

-平均值（單張或多層試樣）

-標(biāo)準(zhǔn)偏差

-變異系數(shù)

-系列測量的*大*小值

連接方式

以太網(wǎng)

安裝需求

100w功率

儀表用氣

儀表用氣>0.2MPa,

外形尺寸

0.50 × 0.59 × 0.45 m

體積

0.132m3

凈重

34kg

毛重

60kg

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

PPS粗糙度，本特森粗糙度，針式粗糙度


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L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀供貨范圍

1臺L&W OptiTopo  光學(xué)粗糙度儀型號269

1根電源線

1件檢查裝置

1 份交貨證書1 份產(chǎn)品手冊

更多L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀型號269信息請直接致電埃登威上海021-55581219
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