德國FISCHER X-RAY XAN 215入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。
德國FISCHER X-RAY XAN 215入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀產(chǎn)品簡介：
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款頗具性價比的入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。
它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯(17)到鈾(92)，多時可同時測定24種元素。
正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，本款儀器有著初設(shè)的準確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準儀器所需的時間和精力。
先進的Si-PIN的完全基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。
德國FISCHER X-RAY XAN 215入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀產(chǎn)品應(yīng)用：
典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
珠寶、貴金屬和牙科用合金分析
黃金制品和K金制品分析
鉑金制品和銀制品分析
銠制品分析
其他合金分析和鍍層厚度測量
多鍍層厚度測量
德國FISCHER X-RAY XAN 215入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀：
通用規(guī)格
設(shè)計用途
采用能量色散型X射線熒光光譜法（EDXRF），
用以分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度
元素范圍
從元素氯（17）到鈾（92），多時可同時測定24種元素。
重復(fù)性
測量金元素時≤1‰，測量時間60秒
形式設(shè)計
臺式儀器，測量門向上開啟
測量方向
由下往上
X射線源
X射線管
帶鈹窗口的鎢靶射線管
高壓
三檔：30KV，40KV，50KV
孔徑（準直器）
φ1mm；可選φ2mm
測量點尺寸
當(dāng)測量距離MD=0mm時，測量點直徑=孔徑直徑+200μm
X射線探測
X射線探測器
采用珀耳帖了法冷卻的Si-PIN接收器
能量分辨率
（Mn元素Kα半高寬）
≤180eV
測量距離
0...10mm
通過受專有保護的DCM測量距離補償法，可在不同測量距離上不需要重新校準就能進行測量；對于特殊的應(yīng)用或者對測量精度要求較高的測量，可能需要進行額外的校準。
樣品定位
樣品放置
手動
視頻系統(tǒng)
高分辨率CCD彩色攝像頭，可沿著初級X射線光束方向，手動焦距，對被測位置進行監(jiān)控
十字線（帶有經(jīng)過校準的刻度和測量點尺寸），可調(diào)節(jié)亮度的LED照明
圖像發(fā)達倍數(shù)
40x~160x
工作臺
固定工作臺
樣品放置可用區(qū)域
310x320mm
樣品較大重量
13KG
樣品較高高度
90mm
電氣參數(shù)
電源要求
AC 220V 50Hz
功耗
較大120W（不包括計算機）
保護等級
IP40
尺寸規(guī)格
外部尺寸（寬x深x高）
403x588x365mm
重量
大約45KG
環(huán)境要求
使用時溫度
10℃~40℃
存儲或運輸時溫度
0℃~50℃
空氣相對濕度
≤95%，無結(jié)露
計算單元
計算機
Windows®-PC
軟件
標準：Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能
可選：Fischer WinFTM®
執(zhí)行標準
CE合格標準
EN 61010
X射線標準
DIN ISO 3497 和ASTM B 568
形式批準
作為受完全保護的儀器
符合德國“Deutsche Rontgenverordnung-RoV”法規(guī)的規(guī)定
埃登威自動化系統(tǒng)設(shè)備（上海）有限公司
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