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產品資料

日本ae-mic超低電阻測試儀

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產品名稱: 日本ae-mic超低電阻測試儀
產品型號: AE-1152D_11C
產品展商: 其它品牌
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簡單介紹

日本ae-mic超低電阻測試儀
自動測量超低電阻的醉佳選擇
配備BIN功能，判斷結果可以分為11類


日本ae-mic超低電阻測試儀  的詳細介紹

日本ae-mic超低電阻測試儀

 

  • 非常適合分流電阻器等的超低電阻測量。
  • 取消對熱電效應的測量
  • 脈沖測量電流，以減少測量端子的自熱和磨損
  • 接觸檢查功能標準設備
  • 測量：0.0000mΩ?1.5000kΩ
  • ％測量值：0.1mΩ?1kΩ/±50.00％[小分辨率10nΩ]
  • GP-IB / RS-232C / Centronics接口（可選）
  • 配備BIN功能[BIN1至BIN9] （多可以分類11個），集電極開路輸出，LED顯示和蜂鳴器聲音
  • 測量電流/測量電壓異常檢查電路的標準設備
  • 移位輸出可能

日本ae-mic超低電阻測試儀測量范圍和基本精度（環(huán)境溫度23°C±5°C）

測量范圍 測量范圍 解析度 實測電流 測量精度
1毫歐 0.0000mΩ?1.5000mΩ 0.1微歐 3A ±（0.01 Pasento RDG Tasu 1Myuomega）
±3Digit [平均] 
±4位數[SLOW] 
±5digit [快]
內
10毫歐 0.000mΩ至15.000mΩ 1微歐 1A
100毫歐 0.00mΩ至150.00mΩ 10微歐
1Ω 0.0000Ω?1.5000Ω 100微歐 100毫安
10Ω 0.000Ω至15.000Ω 1毫歐
100Ω 0.00Ω至150.00Ω 10毫歐 10毫安
1KΩ 0.0000kΩ至1.5,000kΩ 100毫歐 1毫安
％ 0.1mΩ?1kΩ/±50.00％ 0.01％[10nΩ] 看上面 參考規(guī)格
測量端子開路電壓 5V以下
測量方式 4端子測量[可進行接觸檢查]
采樣時間 [日本ae-mic超低電阻測試儀自由運行] 2至10次/秒
[外部啟動]大約9毫秒-400毫秒。
比較器設定范圍 上限和下限均為[0至15000]，
％范圍：低0至-50％，高0至+ 50％
比較器判斷結果顯示 [BIN1至BIN9]顯示和蜂鳴器
控制信號 測量開始信號：以“ L” [0V]→“ H” [DC12V]開始
保持信號：斷開，“ H” [DC12V]：自由運行，“ L” [0V]：保持
判斷結果信號[LO / GO（BIN1至BIN9）/ H1] 
：集電極開路輸出max40V，100mA
接觸錯誤[CONT-E]：
集電極開路輸出大40V，100mA
日本ae-mic超低電阻測試儀測量結束信號[EOC]：集電極開路輸出大40V，100mA
周邊環(huán)境 溫度：5℃?+ 40℃濕度：85％以下
需要電源 AC85V-265V，50-60HZ，約60VA
外形尺寸 333（W）x 99（H）x 300（D）mm（不包括橡膠腳等突起）
重量 約3kg
選項 ? RS-232C 這些選項中 只有
一個
可以內置。
? GP-IB
?日本ae-mic超低電阻測試儀打印機輸出（Centronics）
?打印機電纜
?短接（零歐姆標準電阻）

 日本ae-mic超低電阻測試儀

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