日本KETT LW-990膜厚計測試臺人工測量誤差減小,對測量管狀物很有效。
日本KETT LW-990膜厚計測試臺產(chǎn)品簡介:
LW-990是通過將膜厚計探針或厚度計的升降部的整體式膜厚計安裝于LW-990中,由于膜厚度測量儀的測里開始與測童對象接觸--恒定的力和角度,人工測量誤差減小,并且可以以高的重復精度測量來執(zhí)行。如要測量的管狀物,這是特別有效的。探針的膜厚計型,和支持雙式膜厚計的LZ-990相對應。
日本KETT LW-990膜厚計測試臺技術參數(shù):
尺寸重量:150 (W) X210 (D) X280 (H) mm、2. 5kg
對應傳感器:
探頭類型:LEP和LHP- 20/20C/30/30C/ J
機身整體式:LZ-990
日本KETT LW-990膜厚計測試臺附件:
螺絲,電纜夾,探頭支架(黑色和白色),探針,博爾特,軸支架,內(nèi)六角扳手,使用說明書
LZ-990使用例子
探針型的使用例子
埃登威自動化系統(tǒng)設備(上海)有限公司
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